Makakatiyak kang bibili ng E4991B Impedance Analyzers mula sa aming pabrika.
Makakaasa ka na bumili ng E4991B Impedance Analyzers mula sa aming pabrika. E4991B Impedance Analyzer 1 MHz - 3 GHz
Ang Keysight E4991B Impedance Analyzer ay ang perpektong solusyon para sa pagkilala at pagsusuri ng mga elektronikong sangkap, semiconductor device, at materyales.
Tatlong maa-upgrade na opsyon sa dalas: 1 MHz hanggang 500 MHz/1 GHz/3 GHz
Pangunahing katumpakan ±0.65% at 120 mΩ hanggang 52 kΩ hanay ng impedance (10% saklaw ng katumpakan ng pagsukat)
Mga parameter ng pagsukat: |Z|, |Y|, θ, R, X, G, B, L, C, D, Q, |Γ|, Γx, Γy, θΓ, Vac, Iac, Vdc1, Idc1 (1. Kinakailangan ang Opsyon 001)
Built-in na DC bias (Pagpipilian 001): 0 V hanggang ±40 V, 0 A hanggang ±100 mA
4-channel at 4-trace sa 10.4-inch color LCD na may touch screen
Data analysis function: Katumbas na circuit analysis, limit line test
Pagsusukat ng dielectric/magnetic na materyal (Pagpipilian 002): |εr|, εr', εr'', tanδ(ε), |μr|, μr', μr'', tanδ(μ)
Pagsusukat ng mga katangian ng temperatura (Opsyon 007) at maaasahang on-wafer na pagsukat (Opsyon 010) na kakayahan
Ang mga opsyon sa pagsukat ng materyal ay nagbibigay ng kakayahan sa pagsusuri ng mga katangian ng temperatura (Option 007) at direktang read function ng permittivity at permeability (Option 002).
Ang probe station connection kit (Option 010) ay nag-aalok ng tumpak na on-wafer o micro-component na solusyon sa pagsukat ng impedance hanggang 3 GHz.
Sinusuportahan ng E4991B ang maraming uri ng mga pansubok na accessory na idinisenyo upang gawing simple at maaasahan ang mga sukat.
Kung ikaw ay nasa R&D, QA o inspeksyon, ang E4991B ay isang mainam na solusyon para sa pagkilala at pagsusuri ng mga elektronikong sangkap, semiconductor na aparato at materyales.
Para sa pagsukat ng mga materyales, gumagana ang E4991B sa suite ng pagsukat ng mga materyales na N1500A-005 at nagbibigay ng kadalian sa pagsukat (hanggang sa 1 GHz), mula sa pag-set up ng mga fixture hanggang sa pagbuo ng ulat.
| Karagdagang Impormasyon: | RF IV, na angkop para sa tumpak na pagsusuri ng impedance Katumbas na pagsusuri ng circuit (7 modelo) Meas ng materyal. (opt. 002) Temperature characteristic test (opt. 007) On-wafer impedance meas. may probe station (opt. 010) 4 na channel, 4 na bakas |
| Pangunahing Katumpakan: | 0.65% |
| DC Bias: | 0 V hanggang ±40 V, 0 A hanggang ±100 mA (opsyon 001) |
| Dalas: | 1 MHz hanggang 500 MHz/1 GHz/3 GHz |
| Pinakamataas na Dalas: | 3 GHz |
| Pagsukat: | Paraan ng RF-IV |
| Saklaw ng Pagsukat(Katumpakan < 10%): | 120 mΩ hanggang 52 kΩ |
| Iba pang Mga Tampok: | Equivalent Circuit analysis, limit line test, atbp. Dielectric/magnetic material measurement (option 002), Temperature features measurement (option 007), |
| Mga espesyal na tampok: | n/a |
| Target na DUT: | Pangkalahatang Layunin na aparato materyal |
| Uri: | Impedance Analyzer |
